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簡要描述:高低溫溫度沖擊試驗箱(左右吊籃沖擊):電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)測試。
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所屬分類:溫度沖擊試驗箱
產(chǎn)品時間:2025-01-10
高低溫溫度沖擊試驗箱(左右吊籃沖擊):電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)測試。
一、型號:TSC-225PF-2P
二、沖擊溫度:-40~150
三、精度條件:高溫~低溫5分鐘內(nèi)達(dá)到,9點溫度均勻度正負(fù)2度
高低溫溫度沖擊試驗箱(左右吊籃沖擊)
1)試驗樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱(室)內(nèi)溫度升到達(dá)點,保持一定的時間至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準(zhǔn)。
2)高溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內(nèi),保持1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準(zhǔn)。3)低溫階段結(jié)束后,在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內(nèi),保持1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時間長都為準(zhǔn)。
4、重復(fù)上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小,時間可能會略有誤差?;謴?fù):試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后,應(yīng)在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復(fù),直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.后檢測:對照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結(jié)果評定。